Phương pháp huỳnh quang tia X của QUATEST 3 khả năng phân tích chính xác hàm lượng vàng từ 0% đến 99,9%
Ngày 27/03/2017, Tổng cục Tiêu chuẩn Đo lường Chất lượng có Quyết định 399/QĐ-TĐC chỉ định QUATEST 3 thực hiện việc thử nghiệm xác định hàm lượng vàng trang sức, mỹ nghệ bằng phương pháp huỳnh quang tia X theo Quy định tại Thông tư 22/2013/TT-BKHCN ngày 26/09/2013 của Bộ trưởng Bộ Khoa học và Công nghệ.
Phương pháp huỳnh quang tia X chủ yếu để xác định hàm lượng vàng trong vàng trang sức, mỹ nghệ là phương pháp thử nghiệm không phá hủy bằng thiết bị X-Ray (XRF) và phương pháp phá hủy mẫu sử dụng quang phổ phát xạ quang học plasma cảm ứng (ICP-OES).
Từ 2014, QUATEST 3 đã tiên phong đưa vào sử dụng thiết bị phát xạ huỳnh quang tia X – Fischerscope X-ray XDV-SDD, được sản xuất tại Cộng hòa Liên bang Đức với các tính năng nổi trội như có khả năng phân tích chính xác hàm lượng vàng từ 0% đến 99,9% và hàm lượng một số kim loại khác trên bền mặt các mẫu vàng thương phẩm không xi mạ với độ lặp lại rất tốt.
Đo được bề dày và thành phần lớp mạ, thành phần hóa học các vật liệu cấu trúc nhỏ có hợp chất hóa học từ nhôm AL ( 13) đến uranium U (92) trong bảng hệ thống tuần hoàn các nguyên tố hóa học.
Ống chuẩn trực có thể thay đổi 4 kích thước cho phép đo được mẫu có kích thước bề mặt rất nhỏ hoặc những vị trí nhỏ như mối hàn trang sức.
Camera màu có độ phân giải cao có thể quan sát được hình ảnh quang học của mẫu dọc theo trục của chùm tia chính, cho phép phân tích ơ bất kỳ vị trí nào của mẫu.
Theo ông Mai Văn Sủng- Phó Giám đốc QUATEST 3, ưu điểm chính của việc sử dụng thiết bị phát xạ huỳnh quang tia X này là phân tích không phá hủy mẫu, có khả năng xác định hàm lượng vàng với độ chính xác cao đáp ứng được yêu cầu của Thông tư 22/2013/TT-BKHCN và cho kết quả trong thời gian nhanh, khoảng 15 - 20 phút/mẫu.
Theo vietq.vn
